SC2010半导体分立器件测试系统
1.1 系统概述
SC2010半导体分立器件测试系统是一款非常具有代表性的新型半导体晶体管参数测试图示系统，是美国STI5000系列测试机的国产替代机型，本系统可自动生成功率器件的
I-V 曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析， IQC 来料检验及高校实验室等部门有广泛的应 用。系统生成的曲线都使用
ATE 系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是 6 to 20ms,通常上百 个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入
EXCEL 等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的半导体测试设备。
本系统使用方便，只需要通过 USB 或者 RS232 与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以 EXCEL 和
WORD 的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测
试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。
