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  • SWD10065测试机
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  • SWD10065测试机

    博微
    10000-50000
    显微镜分类
    中国
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商品概述

  SWD-10065型半导体测试机用于配合SWD-7200编带机完成半导体的夹测工作o主要用于SOP系列的芯片参数检测,分类统计,PC及通过PCI-E总线接口卡控制测试机。操作系统选用WINDOWS7,32位系统,C/C++语言编程c测试机结构方面,采用6U尺寸7槽,提供6个用戶插槽以及1个系统插槽。系统单通道提供最大传输数据为100MHZ,存储深度为64M.。同时支持多种机械手和探针台工作。


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